红外热像仪对电气接头的检测

红外热像仪在电气接头检测方面应用十分重要，德图仪器小编给大家整理的资料具体如下所述：

所谓电气设备热缺陷，通常是指通过一定手段检测得到，由于其内在或外在原因所造成的发热现象。根据缺陷所产生的原因不同，我们通常归纳为以下几类：
1、长期暴露在空气中的部件，由于温度湿度的影响，或表面结垢而引起的接触不良。
2、由于外力作用所引起的部件损伤，因而使得的导电截面积减少而产生的发热。如接头连接不良，螺栓，垫圈未压紧 或过紧。
3、长期运行腐蚀氧化；大气中的活性气体、灰尘引起的腐蚀；元器件材质不良，加工安装工艺不好造成导体损伤；机械振动等各种原因所造成的导体实际截面降低。
4、负荷电流不稳或超标等。
5、由于电器内部本身故障，如内部连接部件接触不良导致的电阻过大。

因为，发热功率（P）与接触电阻（R）、通过电流（I）的平方成正比。正常时，这些连接处（部位）的电阻在允许范围，通过额定工作电流后发热也在设计允许值以内，所以不会影响设备的安全运行。由于以上因素使接触电阻异常，电流通过时发热功率增大，而且通电时间越长、电流越大，会产生异常发热，使温升异常增加，就会产生缺陷。

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